公告摘要:
封裝級(jí)器件可靠性測(cè)試設(shè)備封裝級(jí)電遷移可靠性測(cè)試設(shè)備(重新招標(biāo))招標(biāo)公告
封裝級(jí)器件可靠性測(cè)試設(shè)備&封裝級(jí)電遷移可靠性測(cè)試設(shè)備(重新招標(biāo))招標(biāo)公告 發(fā)布時(shí)間:2025-11-18 招標(biāo)編號(hào):0722-254FE7272CQZ 項(xiàng)目名稱:封裝級(jí)器件可靠性測(cè)試設(shè)備&封裝級(jí)電遷移可靠......