公告摘要：
基于目標(biāo)檢測與機(jī)器學(xué)習(xí)的漏磁內(nèi)檢測數(shù)據(jù)體積型缺陷識(shí)別與反演算法設(shè)計(jì)開發(fā)......
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公告摘要：
基于目標(biāo)檢測與機(jī)器學(xué)習(xí)的漏磁內(nèi)檢測數(shù)據(jù)體積型缺陷識(shí)別與反演算法設(shè)計(jì)開發(fā)......
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